通过对暗室中不同器件（如照明、通风口、转台、过道、吊葫芦等）全波仿真分析计算，并与建成后暗室测试对比发现，以上器件对暗室静区影响很大。目前国内外厂商普遍采用传统评估暗室的方法，即GO（几何光学）或者PO（物理光学）来评估暗室静区性能，这种方法具有致命的缺陷，尤其当暗室中存在过道、吊葫芦（含工字轨道）等设备时，具体缺陷：传统方法不能仿真过道引起的“截断散射”效应，过道终点通向静区（被测区域），该散射场会影响静区性能；截断散射效应是过道位置选择的一个重要参考依据；传统方法不能准确仿真过道形成的“腔体反射”效应，过道与周边角锥吸波材料形成一个半开口的腔体，其多次反射后形成的辐射场是暗室噪声的来源。腔体反射效应是过道位置选择、周边吸波材料布局设计和选取的一个重要参考依据；传统方法不能准确仿真吊葫芦形成的“腔体辐射”效应，无论吊葫芦裸露放置在暗室中还是放置在屏蔽体内，都会形成一个腔体，对外辐射电磁场是暗室的噪声来源。腔体辐射效应是吊葫芦位置选取的一个重要参考依据；传统方法不能仿真“低频绕射”、“高阶反射”等现象，而这些波动现象往往是高规格宽频暗室的主要噪声来源；传统方法不能仿真转台、照明和通风等对静区的影响，暗藏巨大风险。综上所述，如果暗室的低频段不要求（f>1GHz）、静区要求不高（-30dB）、内部结构简单（过道远离主反射区，无吊葫芦），以“传统方法+工程经验”进行估计，基本可以胜任。但是，如果要求低频（绕射现象严重）、高静区要求（-40dB或更高，中高频的高价衍射完全可能破坏静区性能）、内部设备多（例如大型暗室，暗室建筑物形状特殊导致过道靠近主反射区，测试设备重需要安装吊葫芦），传统方法往往出现巨大误差。
